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Elcometer400易高400曲面光澤度儀

Elcometer 400是與英國的物理實驗室（NPL）合作開發(fā)的，它的小面積測量區(qū)域和的樣本放置系統(tǒng)確保了零部件的定位，所以非常適合于小面積、彎曲或復雜外形表面的測量。

Elcometer400 光澤度儀的8mm 2(0.01平方英寸)測量面積是標準光澤度儀通常所要求面積的大約3%。

特性：

• 連續(xù)測量模式，可對表面光澤度變化進行迅速評估
• 統(tǒng)計分析一鍵進行
• 內(nèi)置式記憶——儀器可存儲多達199個讀數(shù)
• USB數(shù)據(jù)輸出至PC——用Elcometer的Novo-Soft™軟件迅速做出報告
• 自動劃定幾何范圍——在所有的光澤度范圍內(nèi)都可讀取讀數(shù)，從無光澤到鏡面光澤
• 引發(fā)遠程數(shù)據(jù)捕獲